О статье
Измайлов В.В., Новоселова М.В.
Приведены результаты исследования микрорельефа поверхностей образцов из титанового сплава после операции электроэрозионной резки. Определен набор стандартных и нестандартных параметров профиля микрорельефа, а также их соотношений, по которым можно судить о характере профиля шероховатости. Показано, что распределение ординат профиля хорошо описывается нормальным распределением, а также бета-распределением. Это дает основания представить профиль исследованной поверхности в виде широкополосного нормального случайного процесса и использовать возможности данной модели для статистической оценки дополнительных параметров шероховатости. Показано также, что параметры шероховатости поверхностей после электроэрозионной резки сопоставимы с аналогичными параметрами поверхностей после газолазерной резки и механической обработки (шлифования), и это свидетельствует об их общей стохастической природе.
титановый сплав, электроэрозионная резка, шероховатость, статистические параметры, профильный метод.
The article presents the results of the study of the microrelief of the surfaces of titanium alloy samples after electrical discharge wire cutting. A set of standard and non-standard parameters of the microrelief profile, as well as their ratios, is determined, by which one can judge the nature of the roughness profile. It is shown that the distribution of the profile ordinates is well described by the normal distribution, as well as by the beta distribution. This gives grounds to represent the profile of the studied surface as a broadband normal random process and to use the capabilities of this model for the statistical assessment of additional roughness parameters. It is also shown that the roughness parameters of the surfaces after electrical discharge cutting are comparable with similar parameters of the surfaces after gas-laser cutting and mechanical processing (grinding), which indicates their common stochastic nature.
titanium alloy, electrical discharge wire cutting, roughness, statistical parameters, profile method.